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可靠性试验设备系列

编号

类别

型号

1 集成电路高温动态试验系统 1-1  HTI-3000N
1-2  HTI-2000N
1-3  HTI-1000N
2 分立器件高温反偏试验系统 2-1  HTR-800N
2-2  HTR-800HN
2-3  HTR-820N
2-4  HTR-820HN
2-5  HTR-820SN
2-6  HTR-820HSN
3 分立器件综合寿命试验系统 3-1  HTD-600N
3-2  HTD-600HN
3-3  HTD-600SN
3-4  HTD-600HSN
4 二极管正向寿命试验系统 4-1  HTD-650N
4-2  HTD-650SN
4-3  HTD-651D
4-4  HTD-651A
4-5  HTD-652N
5 二极管全动态寿命试验系统 5-1  HDD-5A
5-2  HDD-30A
6 大功率晶体管寿命试验系统 6-1 HTW-50
6-2 HTW-150
6-3 HTW-300
7 可控硅品质试验系统 7-1 HTD-610A
7-2 HTK-810A
8 电容器品质试验系统 8-1 HTC-700N
8-2 HTC-720N
8-3 HTC-720SN
9 桥堆品质试验系统 9-1 HTQ-660A
9-2 HTQ-660D
9-3 HTQ-660B
9-4 HTQ-660N
9-5 HTQ-860N
9-6 HTQ-862N
9-7 HTQ-862SN
9-8 HTQ-862AN
10 三端稳压器/模块寿命试验系统 10-1 HTD-690HN
10-2 HTD-692HN
10-3 HTD-690N
10-4 HTD-692N
11 LED寿命试验系统 11-1 HTE-300N
11-2 HTE-320N
可靠性试验设备系列
电源系列
老化测试座系列
部分典型用户